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　　专利摘要显示，本发明公开了石英石表面缺陷检测方法、系统及设备，涉及图像处理技术领域，包括将待检测石英石固定于检测平台，并进行预处理；构建双路偏振成像光路；基于石英石光学各向异性特性进行偏振参数优化，使缺陷区域与正常区域产生偏振态差异；在偏振参数优化条件下，通过双路偏振成像光路同步采集第一偏振图像和第二偏振图像；对第一偏振图像和第二偏振图像进行偏振差分计算，生成偏振差分图像；对偏振差分图像进行对比度增强处理，识别缺陷区域并进行缺陷分类，输出石英石表面缺陷检测结果。